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新興太空領域更令人興奮的是發射大量近地軌道 (LEO) 衛星體積小，經濟可行，具有抗輻射性和可靠性，增強了世界通信和連接性。在以前的衛星領域，大多數任務都高達地球 22,236 英里地球同步軌道，預計持續時間超過 10 與年不同的是，LEO 衛星的軌道離地球更近，不超過 1,300 英里。由于這些衛星相對容易更換，其工作壽命通常不到七年。

在符合嚴格預算并保持競爭力的情況下，LEO 衛星電子設計的主要挑戰是：

● 使用更小、更集成的元件來減小電路板的尺寸。

● 找到交貨周期短的設備進行短周期設計。

● 使用能夠承受空間惡劣條件的電子元件。

對于剛進入航天領域的設計師來說，航天領域具有陸地產品無法解決的具體挑戰，包括：

● 輻射性能。

● 商用現成 (COTS) 典型的控制工藝和材料變化。

Anpec代理● 當衛星繞地球運轉時，由于溫度波動劇烈，會產生熱循環。

● 未密封塑料封裝釋氣。

TI 的航天 EP 認證過程克服了上述挑戰，因此不需要使用高風險和資源密集型升級篩選方法（以前偶爾使用）。升級篩選是在數據表規格以外的條件下測試設備的電氣或環境。雖然升級篩選有助于分類航天器件的性能，但仍存在許多風險。如果升級篩選不完全了解設備的配方及其測試向量，可能導致現場故障和任務執行期間衛星正常運行的錯誤安全感。

如何降低抗輻射塑料器件的風險？

利用 TI 設計師和設備工程師可以在不考慮衛星的情況下設計和驗證航天產品的電路板 LEO 航天環境中的具體注意事項。 EP 產品不需要考慮的部分注意事項包括：

● 受控基線流程。每個航天。 EP 器件，TI 為了減少材料組合、輻射耐受性和電氣規格的差異，在制造工廠、裝配場所和測試場所進行了制造。

● 輻射批驗收試驗。航天 EP 測試后，至少確保每個晶圓批次的電離輻射總劑量 (TID) 為 20krad (Si)(能滿足更高 TID 對額定量設備進行測試，以消除任何批次之間輻射差異的風險。這些設備通常在認證期間高達 30krad (Si) 至 50krad (Si) 的 TID，額外的輻射性能可以實現。(需要更高的層次 TID 性能項目，TI 以前的 QMLV 航天產品的額定值通常是 100krad(Si) 或更高。）

● 金線。航天 EP 該裝置僅使用金鍵合線，以消除銅在更嚴格的容差要求下可能出現的鍵合完整性和可靠性問題。

● 無錫需要風險。由于空間條件惡劣，即使使用塑料涂層，也要考慮錫須問題。為了避免這種風險，太空 EP 產品不使用錫含量高的端子。相反，涂層使用鎳-鈀-金或 63% 錫/37% 鉛。

● 工作溫度范圍。航天環境通常需要 -55°C 至 125°C 溫差 EP 設備限制在溫度范圍內后，無需升級和篩選工作溫度范圍，否則會使設備 TI 飛行中使用的設備可能會因保修失效而損壞。

● 惡劣環境資質認證。 EP 產品接受更嚴格的高加速應力認證過程，如更嚴格的高加速應力試驗、各設備和增強材料的溫度循環試驗，以滿足要求 NASA 美國材料與試驗協會牽頭 E-495 釋氣規格要求。

加快產品推出時間表

憑借 TI 航天 EP 設計師可以更快地開發和驗證設備的質量和可靠性。在 TI.com 在上述設備產品文件夾中，我們提供了 LEO 所有輻射數據、釋氣數據和可靠性報告都需要優化設備。使用我們的詳細報告可以節省很多成本，因為 LEO 使用衛星應用 COTS 在產品中，會在輻射測試、升級篩選和易生不良品分析上投入大量資金。

我們的報告包括：

● 針對 TID 包括輻射報告 30krad (Si) 至 50krad (Si) 特性數據和 20krad (Si) 至 50krad (Si) 耐輻射加固保證數據

● 對于單粒子效應的輻射報告，43MeVcm2/mg 電源管理產品的單粒子鎖定數據和額外的破壞性單粒子和單粒子瞬變特性。

● 釋放和可靠性報告提供產品流程、可靠性數據、可追溯性和釋放測試信息。報告中的信息有助于加快電路板認證，減少對外部認證工作的需求，從而最大限度地降低選擇新產品時面臨的風險，并確保設備從一開始就能正常工作。

表1列出了完整的航天EP設備產品組合。

表1已發布的航天EP器件

惡劣的空間環境需要提高可靠性，以確保系統的安全。使用我們的空間 EP 在下一次發射任務中，設備產品組合節省時間，降低風險。